膜厚計

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膜厚計
TES-96

膜厚計

  • 自動判別 ”磁性金屬” / ”非磁性金屬” 底材之測量
  • 測量磁性金屬上 - 非磁性被膜之厚度及
    非磁性金屬上 - 絕緣被膜厚度
  • 被膜厚度超出上下限之響聲及顯示警示功能
  • 平均值、最大值、最小值及標準差功能
  • 可選擇測量厚度單位 μm/mils
  • 8組磁性金屬及8組非磁性金屬校正曲線記憶功能
  • 大LCD顯示含背光
  • 自動關機功能
更多資訊
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